IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型

IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型

技術優(yōu)勢?

?精準環(huán)境模擬?

采用?非飽和蒸汽加濕技術?，避免樣品表面凝露干擾測試結果?

配備?干濕球雙傳感器?與PID智能算法，實現(xiàn)溫濕度精準調(diào)控?。

?高強度結構設計?

?內(nèi)膽材質?：SUS316不銹鋼圓弧內(nèi)膽，防結露設計，耐受長期高壓蒸汽腐蝕?。

?隔熱系統(tǒng)?：陶瓷纖維隔熱層+冷軋鋼板外殼，能耗降低30%?。

IC封裝高壓加速老化試驗箱HAST 非飽和型

?安全防護系統(tǒng)?

?雙重泄壓保護?：機械安全閥+電子超壓報警，壓力超限自動切斷電源?。

?多重故障防護?：斷水保護、空焚保護、漏電保護，符合國家安全容器標準?。

?三、應用場景?

?IC封裝測試?：快速暴露芯片分層、焊點腐蝕、金屬引線失效等問題（測試周期縮短至48小時）?。

?半導體器件可靠性驗證?：評估BGA封裝、磁性材料在濕熱高壓下的壽命衰減特性?。

?軍工與汽車電子?：ECU控制器、傳感器密封性及耐候性測試?。

?四、增值服務?

?定制化方案?：支持樣品架尺寸、信號施加端子數(shù)量定制（標準配置8條端子）?。

?快速交付?：15天交付周期（含安裝調(diào)試與技術培訓）?。

?售后服務?：整機質保3年，核心部件（傳感器、壓縮機）終身維護?。

?五、測試效果與價值?

?加速老化效率?：模擬10年自然老化效果僅需240小時，降低研發(fā)周期與成本?。

?數(shù)據(jù)可靠性?：支持USB導出溫濕度曲線數(shù)據(jù)，兼容RS-485通訊接口?。

皓天HT-HAS-150以非飽和高壓環(huán)境為核心，滿足IC封裝等高精度測試需求，結合軍工級安全設計，為電子行業(yè)提供高效可靠的老化驗證方案?。